常见问题

主控MCU端发送AT命令给4G模组后，不等AT命令的应答，只靠延时来处理，可以吗？

有的用户直接按照以下方式处理AT交互

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这种处理方式，主控MCU发送AT命令给4G模组后，只靠延时来判断执行结果，这种方式是非常不可靠；

一般来说，正常的处理方式为：MCU发送每条AT命令给4G模组后，可以设置一个最长等待应答的时间，如果在这个时间内返回了应答，直接解析应答结果即可；如果超时没有返回应答，根据自己的项目设计，选择合适的方式，重启4G模组和MCU整个系统即可。

不支持。

在硬件设计过程中，如果没有做好ESD防护，以下引脚都可能被静电打坏，出现对地短路的异常现象;

以下是总结的一些常见对地短路的情况：

1. usb vbus，usb dp，usb dm，如果使用万用表测试对地短路或者对地用二极管档位测试发现数值异常(正常应该几十K欧姆以上，如果测试只有几十欧，就是异常)；

2. sim clk对地短路；

3. vbat对地短路;

此种情况的短路，除了ESD没做好防护之外；

还见过一种dcdc电路本身的设计问题，vbat允许输入的电压范围是3.3V~4.3V，极限不要超过4.5V；

曾经有一个客户的dcdc电路硬件设计，导致上电瞬间会概率性出现给vbat供电到5.5V的情况，最终导致vbat引脚被打坏；

如果出现vbat对地短路的情况，根据自己的硬件设计初步分析；

如果有可能出现给vbat供电波动的情况，一定要使用示波器抓取上电瞬间开机过程中的电压波形来分析排除这种问题。

4. global_1v8对地短路；

对于以上出现的引脚对地短路的异常表现，基本上都是ESD/EOS电源浪涌打坏主芯片部分引脚导致；

建议自查和整改措施如下：

1. 硬件设计时做好ESD防护；

docs网站每种产品型号的硬件设计指南中都有关于ESD防护的说明；

例如Air700ECQ的硬件设计指南，可以访问 air700ecq.cn -> LuatOS二次开发或者 AT指令使用方式 -> 硬件指南，左边导航栏有关于供电设计，sim卡电路设计，串口电路设计等参考设计，每项参考设计中都有关于ESD防护的说明；

2. 提高工厂员工终端客户的防静电意识；

3. 在生产和测试时做好防静电措施，加强电源冲击电压，负载能力，纹波测试;

4. 测试站位的设备之间相互共地，防止测试设备相互浮空，导致电位差形成EOS浪涌干扰；

5. 规避带电连接操作;

6. ESD防护原理可以参考：ESD防护原理；

没遇到过这种情况，出现这种问题，联系合宙射频技术人员实施沟通，大概率是寄板子给合宙分析解决；

这种150K-30M，30M-1GHZ的基本都是电源上干扰问题；

30M-1GHZ问题主要出在600MHZ以下会出现超标情况；

解决办法：

1. 换品牌电源（做过认证的）；

2. 在电源线靠近设备电源插头处加磁环(绕一圈)；